薄膜反射儀根據(jù)其測(cè)量方式的不同，可分為：接觸式薄膜測(cè)厚儀，非接觸式薄膜測(cè)厚儀。非接觸式薄膜測(cè)厚儀的出現(xiàn)，大大提高了紙張等片材厚度測(cè)量的精度，尤其是在自動(dòng)化生產(chǎn)線上，得到廣泛應(yīng)用。
　　薄膜反射儀界面友好，操作簡(jiǎn)便，用戶點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)就可以完成測(cè)量。便捷快速的保存、讀取測(cè)量得到的反射譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大，可同時(shí)測(cè)量多達(dá)四層的薄膜的反射率數(shù)據(jù)。一次測(cè)量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學(xué)常數(shù)等數(shù)據(jù)。材料庫(kù)中包含了大量常規(guī)的材料的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)。用戶可以非常方便地自行擴(kuò)充材料數(shù)據(jù)庫(kù)。
　　薄膜反射儀主要功能及應(yīng)用范圍：
　　1. 有機(jī)、無(wú)機(jī)光電材料的結(jié)構(gòu)和性能研究
　　2. 多晶薄膜物相鑒定、取向分析、晶粒大小測(cè)定、薄層次序分析
　　3. 薄膜厚度、表面及界面粗糙度、密度
　　薄膜反射儀功能特點(diǎn)：
　　1.測(cè)量和數(shù)據(jù)分析同時(shí)進(jìn)行，可測(cè)量單層膜，多層膜，無(wú)基底和非均勻膜
　　2.包含了500多種材料的光學(xué)常數(shù)，新材料參數(shù)也可很容易地添加，支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
　　3.體積較小，方便擺放和操作
　　4.可測(cè)量薄膜厚度，材料光學(xué)常數(shù)和表面粗糙度
　　5.若需要單獨(dú)使用時(shí)，請(qǐng)向我司銷(xiāo)售代表說(shuō)明；
　　薄膜反射儀可快速地測(cè)量透明或半透明薄膜的厚度，其測(cè)量膜厚范圍為15nm-50um，儀器所發(fā)出測(cè)試光的波長(zhǎng)范圍為400nm-1100nm。此款測(cè)試系統(tǒng)理論基礎(chǔ)為鏡面反射率，并且采用光纖反射探頭。儀器尺寸小巧，方便于在實(shí)驗(yàn)室中擺放和使用。薄膜反射儀是一款價(jià)格適中、功能強(qiáng)大的膜厚測(cè)量?jī)x器，近幾年，每年的銷(xiāo)售量都超過(guò)200臺(tái)。根據(jù)型號(hào)不同，測(cè)量范圍可以從10nm到250um，它至高可以同時(shí)測(cè)量4個(gè)膜層中的3個(gè)膜層厚度（其中一層為基底材料）。該產(chǎn)品可應(yīng)用于在線膜厚測(cè)量、測(cè)氧化物、SiNx、感光保護(hù)膜和半導(dǎo)體膜。也可以用來(lái)測(cè)量鍍?cè)阡摗X、銅、陶瓷和塑料等上的粗糙膜層。